活动预告｜CTI华测检测邀您参与“电子显微镜助力芯片失效分析”演讲直播

CTI华测检测半导体检测及分析中心实验室完成全面升级，开启半导体检测新篇章

2025年3月13日，华测检测认证集团股份有限公司（简称CTI华测检测）半导体检测及分析中心实验室升级仪式在上海市浦东新区隆重举行，标志着实验室已顺利完成全面升级工作。本次升级涵盖硬件设施更新、检测流程优化及技术体系完善等多个关键领域，充分彰显了CTI华测检测在半导体检测领域的技术实力与创新水平。与此同时，技术展望研讨会也同期召开，邀请了企业客户代表、战略合作伙伴代表等共同参与，围绕检测技术的发展趋势与创新方向进行深入交流，为实验室的持续进步和行业升级提供了宝贵的思路与支持。

2025-03-19 07:21:44

CTI华测检测半导体测试及分析服务，全面助力“芯”发展

随着5G、AI等众多应用的涌现，芯片作为现代电子产品的核心，功能复杂度、系统集成度呈爆发式增长，尤其伴随着近年来汽车智能化、网联化的快速发展，对半导体产品的安全性、可靠性的要求也愈加严格。为助力半导体领域客户确保产品性能合规、稳定可靠等，CTI华测检测提供专业的半导体测试及分析服务，通过全面多样的服务内容、精准高效的测试结果及在细分领域中积累的经验，全面助力“芯”发展。

2024-01-15 06:57:55

CTI华测检测诚邀您出席半导体高功耗芯片测试能力宣讲会

伴随着国内科技的不断发展，我们对芯片功能的要求也在不断的提高，芯片内部的晶体管也越来越多，功耗越来越高，本次华测半导体芯片研讨会主要针对大功耗AECQ项目及失效分析和硬件测试方面和各位来宾进行深入探讨。在此，我们诚邀您出席，衷心感谢您的支持与指导。

2023-12-05 23:56:41

芯片化学开盖分析 (Decap)

CTI华测检测拥有完善的芯片、半导体器件失效分析工具，可为您提供完善的开封及失效分析服务，

芯片防静电测试

芯片静电ESD测试是半导体产品先期质量验证的重要关键指针，避免芯片在生产或使用过程中被静电放电所损伤,静电放电防护电路,ESD耐压能力,静电防护能力测试

芯片封装可靠性环境试验

提供完整的半导体产品芯片可靠性试验项目，协助客户通过JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准