HALT & HASS是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法,现已成为美国电子业界的标准产品验证方法。它将原需花费6个月甚至1年的新产品可靠性试验缩短至一周,且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致,故HALT & HASS的试验方式已成为新产品上市前所必需通过的验证。在美国之外,许多国际的3C电子产品大厂也都使用相同或类似的手法来提升产品质量。
HALT是一种通过让被测物承受不同的应力,进而发现其设计上的缺限,以及潜在弱点的实验方法。HALT的主要目的是通过增加被测物的极限值,进而增加其坚固性及可靠性。HALT利用阶梯应力的方式加诸于产品,能够在早期发现产品缺陷、操作设计边际及结构强度极限的方法。其加诸于产品的应力有振动、高低温、温度循环、电力开关循环、电压边际及频率边际测试等。利用该测试可迅速找出产品设计及制造的缺陷、改善设计缺陷、增加产品可靠性并缩短其上市周期,同时还可建立设计能力、产品可靠性的基础数据及日后研发的重要依据。简单地说,HALT是以连续的测试、分析、验证及改正构成了整个程序,关键在于分析所有故障的根本原因。
利用高环境应力将产品设计缺陷激发出来,并加以改善;
了解产品的设计能力及失效模式;
作为高应力筛选及稽核规格制定的参考;
快速找出产品制造过程的瑕疵;
增加产品的可靠性,减少维修成本;
建立产品设计能力数据库,为研发提供依据并可缩短设计制造周期。
HALT应用于产品的研发阶段,能够及早发现产品可靠性的薄弱环节。其所施加的应力要远远高于产品在正常运输、贮藏、使用时的应力。
1) 逐步施加应力直到产品失效或出现故障;
2) 采取临时措施,修正产品的失效或故障;
3) 继续逐步施加应力直到产品再次失效或出现故障,并再次加以修正;
4) 重复以上应力-失效-修正的步骤;找出产品的基本操作界限和基本破坏界限。
HASS应用于产品的生产阶段,以确保所有在HALT中找到的改进措施能够得已实施。HASS还能够确保不会由于生产工艺和元器件的改动而引入新的缺陷。
1) 进行预筛选,剔除可能发展为明显缺陷的隐性缺陷;
2) 进行探测筛选,找出明显缺陷;
3) 故障分析,改进措施。
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2026-06-03 07:23:17
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2024-05-15 09:00:35