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提供完整的半导体产品芯片可靠性试验项目，协助客户通过JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准

CTI华测检测可提供完整的芯片封装可靠性环境试验项目，包含技术整合咨询、实验设计规划、硬件设计制作、环境应力试验、封装品质试验等一站式服务，协助客户通过JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准

全面评估芯片在长期使用过程中的性能稳定性和可靠性，芯片老化测试,芯片RA检测,芯片RA测试,驱动芯片

CTI华测检测可全面评估芯片在长期使用过程中的性能稳定性和可靠性，为客户提供重要的质量保障和风险评估依据。

可提供定制化的服务方案，从芯片设计、制造到测试，确保产品质量的稳定性和可靠性。

华测蔚思博检测拥有专属的硬件设计团队，具备与客户沟通及设计合作的丰富经验。秉持客户导向的服务基础，并透过直接讨论修正，以提供高质量、快速交期，协助客户在竞争的市场中，取得产品上市的先机。

提供完整的芯片产品老化寿命试验项目，协助客户通过JEDEC、MIL—STD、等可靠性国际试验标准

提供完整的芯片产品老化寿命试验项目，包含技术整合咨询、实验设计规划、硬件设计制作、可靠性试验、寿命预估等一站式服务，协助客户通过JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准。

提供完整的半导体产品芯片可靠性试验项目，协助客户通过JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准

提供完整的芯片产品老化寿命试验项目，协助客户通过JEDEC、MIL—STD、等可靠性国际试验标准

产品在各种气候环境下的可靠性可靠性测试，验证及分析

CTI华测检测通过对材料、元器件、半成品、成品进行气候环境暴露试验，评估产品的耐环境性能以及使用寿命等，验证产品的可靠性。可以通过测试样品是否出现质量问题，分析问题并改善，提高产品的质量。

AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q200、AEC-Q104等多个系列的测试认证服务。

CTI华测检测可您提供汽车芯片电子可靠性试验，包括AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q200、AEC-Q104等多个系列的测试认证服务。

医疗器械可靠性验证、失效分析、无损检测、寿命分析等

CTI华测检测为您提医疗器械可靠性验证，具有CNAS和CMA资质，可为企业提供恒温恒湿、振动、盐雾、寿命分析、臭氧老化、防水防尘、失效分析、可靠性设计分析、无损检测、材料热学、涂镀层、材料硬度等服务。

集成电路元器件、PCB、PCBA、电子辅料等各种金属、塑料橡胶制品、高分子材料、半导体等材料在连接器及电子产品在各种机械环境下的可靠可靠性测试，验证及分析

CTI华测检测机械可靠性测试服务可模拟产品在生产、运输、存储以及使用过程中经受到的各种机械环境应力的影响，评估金属材料、高分子材料、半导体材料等产品的耐机械环境性能，验证产品的可靠性。可以通过测试样品是否出现质量问题，分析问题并改善，提高产品的质量。