电子元器件/PCB板/集成电路/消费电子设备/汽车电子部件及控制器/LED照明产品及光伏组件/医疗器械/家用电器等产品冷热冲击测试
CTI华测检测提供冷热冲击测试服务,可对电子元器件/PCB板/集成电路/消费电子设备/汽车电子部件及控制器/LED照明产品及光伏组件/医疗器械/家用电器等产品进行冷热冲击测试,依托先进设备与资深专家团队,为客户提供准确、高效、专业的测试与综合分析服务。
冷热冲击测试,又称温度冲击测试,是环境可靠性测试中一项极为严苛的测试,用于评估产品在极端、快速变化的温度条件下的耐受能力。该测试能有效揭示产品在温度快速变化条件下的材料老化、性能退化及潜在故障,广泛应用于电子电器、汽车、航空航天及材料等领域。CTI华测检测依托先进设备与资深专家团队,为客户提供准确、高效、专业的测试与综合分析服务。
适用于生产研发过程中需要评估其寿命的产品,主要包括:
- 电子元器件、PCB板、集成电路;
- 消费电子设备;
- 汽车电子部件及控制器;
- LED照明产品及光伏组件;
- 航空航天设备及军用产品;
- 医疗器械;
- 家用电器;
- 塑胶、涂层、复合材料及绝缘材料等。
可根据产品类型、行业要求及客户需求选择相应标准,常见标准包括:
1).基础通用标准
IEC 60068-2-14: Environmental testing - Part 2-14: Tests - Test N: Change of temperature(其中详细规定了试验Na:规定转换时间的快速温度变化,和试验Nb:规定变化速率的温度变化)
GB/T 2423.22: 环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化 (中国国家标准,等同于IEC 60068-2-14)
MIL-STD-883: 微电子器件试验方法标准 (其中的方法1010.8是温度冲击的权威标准)
JESD22-A104: 温度循环 (JEDEC半导体标准)
2).行业特定标准:
汽车电子:ISO 16750-4, USCAR, 及各车厂标准(如福特、通用、大众等均有自己的冲击测试要求)。
军工产品:GJB 150.5A (军用装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验)
航空航天:RTCA DO-160 (机载设备环境条件与试验程序)
冷热冲击测试根据产品在测试过程中的状态和目的,主要分为以下几类:
1).两箱法(吊篮式冲击)
设备:一个高温箱和一个低温箱,中间有一个机械臂驱动的吊篮。
过程:将样品放在吊篮中,机械臂在程序控制下,快速地将吊篮在两个箱体之间移动,实现温度的急速变化。
特点:这是最经典、最常用且转换速率最快的方法。转换时间通常小于1分钟。
2).三箱法(冷热风切换式)
设备:一个测试区,一个高温区,一个低温区。
过程:样品始终放在测试区内,通过阀门切换,将高温区或低温区的空气快速引入测试区,从而实现样品温度的快速变化。
特点:样品不动,避免了机械移动带来的振动应力;但温度变化速率通常比两箱法稍慢一些。
常规测试周期:试验时长+3个工作日,具体时长依据测试条件及样品数量确定。
支持付费加急服务,可根据客户需求缩短周期。
可根据客户需求确定。