各类印刷电路板(PCB)、印制电路板组件(PCBA)、集成电路(IC)封装、芯片封装(如BGA、CSP、QFN等)、电子元器件内部结构以及其他电子组装件高精度、高分辨率的电路板CT扫描与分析服务
CTI华测检测提供高精度、高分辨率的电路板CT扫描与分析服务,适用于各类印刷电路板(PCB)、印制电路板组件(PCBA)、集成电路(IC)封装、芯片封装(如BGA、CSP、QFN等)、电子元器件内部结构以及其他电子组装件,为您的产品质量控制、失效分析及研发改进提供强大技术支持。
随着电子元器件向微型化、高密度集成化发展,电路板的封装和组装工艺越来越复杂,传统的二维检测手段(如X-Ray)已难以满足对隐藏焊点、内部缺陷、孔隙率等进行精确分析的需求。工业CT技术通过三维立体成像,能够无损地检测到内部结构的任何细节,已成为高端制造领域进行质量控制和失效分析不可或缺的工具。
工业计算机断层扫描(CT)技术是一种先进的无损检测方法,无需拆解即可清晰呈现电路板内部的三维结构。
CTI华测检测提供高精度、高分辨率的电路板CT扫描与分析服务,为您的产品质量控制、失效分析及研发改进提供强大技术支持。

各类印刷电路板(PCB)、印制电路板组件(PCBA)、集成电路(IC)封装、芯片封装(如BGA、CSP、QFN等)、电子元器件内部结构以及其他电子组装件。
- 客户自定义检测要求
- GBT 29070-2012 无损检测 工业计算机层析成像(CT)检测 通用要求
- IPC-A-610(电子组件的可接受性)
- IPC-J-STD-001(焊接的电气和电子组件要求)
- 其他相关行业标准或企业标准
缺陷检测:虚焊、冷焊、连锡、桥接、空洞/气孔检测、内部裂纹
尺寸量测:封装内部尺寸、焊点厚度/体积、锡膏厚度、元器件共面性、间隙测量
三维结构分析:芯片内部结构重建、金线键合分析、灌胶产品内部透视
对比分析:多批次或多样品间的三维数据对比与差异分析
孔隙率分析:对焊点、粘接层等区域的孔隙进行分布分析
常规检测周期:5-7个工作日(具体根据扫描分辨率、样品大小和分析复杂度确定)
单个样品即可进行检测。

