AEC-Q102光电半导体器件认证测试及技术咨询一站式服务
为帮助企业满足汽车行业严苛的质量要求,顺利进入主流汽车供应链,CTI华测检测可提供AEC-Q102光电半导体器件认证测试及技术咨询一站式服务。
汽车电子行业对零部件的可靠性要求远高于消费电子领域,光电半导体器件作为车载感知、显示、照明系统的核心组件,需长期承受极端温度、湿度循环、机械振动、电气应力等复杂环境考验。为统一光电半导体器件的可靠性测试标准,降低汽车制造商与零部件供应商的协作成本,AEC-Q102标准定义了一套统一的、严格的测试流程与合格标准,明确了光电半导体器件的可靠性测试项目、条件、判定标准及抽样要求。随着2025年多国收紧汽车电子可靠性法规,以及车载光电器件向高集成度、高功率发展,企业需通过专业的AEC-Q102认证测试,证明产品的长期稳定性,提升市场竞争力。
为帮助企业满足汽车行业严苛的质量要求,顺利进入主流汽车供应链,CTI华测检测可提供AEC-Q102光电半导体器件认证测试及技术咨询一站式服务。
AEC-Q102标准主要适用于所有在汽车环境中使用的光电半导体器件,如光电二极管、光电晶极管、激光器件、LED等。
AEC-Q102认证测试严格依据汽车电子委员会发布的AEC-Q102 Rev-A(现行最新版本)标准,同时结合汽车行业常用的辅助标准开展测试,核心参考标准包括:
AEC-Q102 Rev-A基于失效机理的汽车应用光电子半导体应力测试认证
AEC-Q102-001 结露测试
AEC-Q102-002 板弯曲试验
AEC-Q102-003 光电多芯片模组
AEC-Q102认证测试非常全面,旨在模拟器件在整个生命周期中可能遇到的各种应力条件。其主要检测项目可分为以下5大类,共35个项目,依据不同的器件类型、封装形式来选择要进行的检测项目。
1).TEST GROUP A – 加速环境应力试验
| 序号 | 检测项目 | 缩写 | 检测方法 | 样品量 |
| A1 | 预处理 | PC |
JEDEC JESD22-A113 |
在A2a-c、A3a-b、A4前进行PC |
| A2a |
高温高湿工作寿命 |
WHTOL 1 |
JESD22-A101 |
26个,3批次 |
| A2b |
高温高湿工作寿命 |
WHTOL 2 |
JESD22-A101 |
26个,3批次 |
| A2c | 高湿高温反向偏压 | H³TRB |
JESD22-A101 |
26个,3批次 |
| A3a | 功率温度循环 | PTC | JEDEC JESD22-A105 | 26个,3批次 |
| A3b |
间歇工作寿命 |
IOL |
MIL-STD-750-1 Method 1037 |
26个,3批次 |
| A4 |
温度循环 |
TC |
JESD22A-104 |
26个,3批次 |
2).TEST GROUP B–加速寿命模拟试验
| 序号 | 检测项目 | 缩写 | 检测方法 | 样品量 |
|---|---|---|---|---|
| B1a | 高温工作寿命 |
HTOL1 |
JESD22-A108 |
26个,3批次 |
| B1b |
早期寿命失效率 |
HTOL2 |
JESD22-A108 |
26个,3批次 |
| B1c | 高温反向偏压 |
HTRB |
JESD22-A108 |
26个,3批次 |
| B2 |
低温工作寿命 |
LTOL |
JESD22-A108 |
26个,3批次 |
| B3 |
脉冲寿命 |
PLT |
JESD22-A108 |
26个,3批次 |
3).TEST GROUP C – 封装完整性试验
| 序号 | 检测项目 | 缩写 | 检测方法 | 样品量 |
|---|---|---|---|---|
| C1 |
破坏性物理分析 |
DPA |
AEC-Q102 Appendix 6 |
各2个 |
| C2 |
物理尺寸 |
PD |
JESD22-B100 |
10个,3批次 |
| C3 | 邦定线抗拉强度 |
WBP |
MIL-STD-750-2 方法2037金线和铝线 |
5个,3批次 |
| C4 | 邦定线剪切强度 | WBS | JESD22-B116 | 5个,3批次 |
| C5 |
芯片剪切力 |
DS |
MIL-STD-750-2Method 2017 |
5个,3批次 |
| C6 |
端子强度 |
TS |
MIL-STD-750-2Method 2036 |
10个,3批次 |
| C7 |
结露 |
DEW |
AEC-Q102-001 |
26个,3批次 |
| C8 |
耐焊接热 |
RSH |
含铅:JESD22-B106 无铅:AEC-Q005 |
10个,3批次 |
| C9 |
热阻 |
TR |
JESD51-50、51-51、51-52 |
10个,1批次 |
| C10 |
可焊性 |
SD |
J-STD-002、IEC 60068-2-58 IEC 60068-2-20 |
10个,3批次 |
| C11 |
晶须生长 |
WG |
AEC-Q005 |
3个,3批次 |
| C12 |
硫化氢 |
H2S |
IEC 60068-2-43 |
26个,3批次 |
| C13 |
流动混合气体腐蚀 |
FMG |
IEC 60068-2-60、Test method 4 |
26个,3批次 |
| C14 |
板弯曲 |
BF |
AEC-Q102-002 |
10个,3批次 |
4).TEST GROUP E – 光电验证试验
| 序号 | 检测项目 | 缩写 | 检测方法 | 样品量 |
|---|---|---|---|---|
| E0 |
外观检查 |
EV |
JESD22B-101 |
所有样品 |
| E1 |
应力测试前后电性能测试 |
TEST |
AEC-Q102 Section 2.3.7 用户规范或供应商标准规范 |
所有样品 |
| E2 |
参数验证 |
PV |
客户规范 |
26个,3批次 |
| E3 |
静电放电人体模型 |
HBM |
AEC-Q101-001 |
10个,1批次 |
| E4 |
静电放电带电器件模型 |
CDM |
AEC-Q101-005 |
10个,1批次 |
5).TEST GROUP G– 空腔封装完整性
| 序号 | 检测项目 | 缩写 | 检测方法 | 样品量 |
|---|---|---|---|---|
| G1 |
恒定加速度 |
CA |
MIL-STD-750-2、Method 2006 |
10个,3批次 |
| G2 |
变频振动 |
VFV |
JEDEC、JESD22-B103 Condition 1 |
10个,3批次 |
| G3 |
机械冲击 |
MS |
JESD22-B110 |
10个,3批次 |
| G4 |
气密性 |
HER |
JESD22-A109 |
10个,3批次 |
AEC-Q102 认证测试周期需根据测试项目的复杂度、样品数量及实验室排期综合确定,一般整个全项目认证周期为2-3个月。

