活动预告 | CTI华测检测诚邀您参与无损分析进展&复杂封装挑战与可靠性测试解读研讨会

芯片洞察再添利器！CTI华测检测引进国产超高分辨扫描电镜

随着芯片集成度的不断提高，结构日臻复杂，对芯片结构的极致显微分析能力对于失效分析实验室显得尤为重要。为此，CTI华测检测半导体检测及分析中心于年底正式引进了国仪量子SEM5000X场发射扫描电子显微镜，实验室的芯片检测与分析能力迈上新台阶，为合作伙伴提供更可靠、更及时、更有效的质量保障。

2025-12-17 05:32:07

精彩回顾｜CTI华测检测无损分析进展&可靠性测试标准与解读研讨会圆满落幕

12月6日，CTI华测检测合肥场研讨会圆满落幕。

2024-12-10 05:23:23

CTI华测检测诚邀您出席半导体高功耗芯片测试能力宣讲会

伴随着国内科技的不断发展，我们对芯片功能的要求也在不断的提高，芯片内部的晶体管也越来越多，功耗越来越高，本次华测半导体芯片研讨会主要针对大功耗AECQ项目及失效分析和硬件测试方面和各位来宾进行深入探讨。在此，我们诚邀您出席，衷心感谢您的支持与指导。

2023-12-05 23:56:41

无损分析

CNAS/CMA认可实验室平台，为制造业客户提供全面、高效的无损分析解决方案

芯片化学开盖分析 (Decap)

CTI华测检测拥有完善的芯片、半导体器件失效分析工具，可为您提供完善的开封及失效分析服务，

芯片去层分析 (Delayer)

可帮助客户深入了解芯片的内部结构和性能，并为产品改进提供有力支持。