失效谜团，如何破局？聚焦锂离子电池研讨会，揭秘专业分析检测技术

全球气候变暖形势严峻，推动能源绿色转型迫在眉睫。作为转型核心动力的锂离子电池，在追求更高能量密度和更快充电速度的同时，其安全与性能失效问题已成为行业发展的“拦路虎”。

　

 

• 性能失效：容量跳水、循环寿命短、自放电严重...这是新能源汽车用户投诉的“重灾区”。

• 安全失效：热失控、起火爆炸...近10年全球超30起储能电站事故为我们敲响警钟。

　　失效，是电池内部材料与结构在时间作用下的最终“病理表现”。要根治问题，必须深入其微观世界，进行精准的“病理诊断”。

　　锂电池的衰减始于材料。从原子级到极片级，从晶体结构到界面演化，需要一套完整的、多尺度的表征技术来揭示失效根源。

 

前沿表征技术矩阵

• 实现完整软包和圆柱形电池的高分辨率成像的X射线显微镜（XRM）技术；

• 高端扫描电镜显微分析（SEM）技术；

• 结合氩离子研磨机（CP）+扫描电子显微镜（SEM）的大面积截面表征技术（可达数10层以上极片）；

• 精准定位失效点的聚焦离子束-扫描电子显微镜（FIB-SEM）技术；

• 原子级失效表征技术透射电子显微镜（TEM）可实现在原子尺度上“亲眼看到”电池是如何老化和失效的。

 

经典应用案例

高分辨率X射线显微镜技术

具备对软包与圆柱形电池的全芯成像能力，实现内部结构的无损可视化。

　　

全电芯三维图像&电芯内部缺陷图像

 

高端扫描电镜分析技术

提供样品表面的高精度形貌与成分信息。

NMC 811三元表面残碱观察

大面积截面分析技术

通过氩离子研磨（CP）与扫描电镜（SEM）联用，可制备并分析覆盖数十层极片的无损截面，揭示极片界面与材料的状态。

　　

三元前驱体粉末截面观察_大面积氩离子平抛

 

精准定位分析技术

　　依托聚焦离子束-扫描电子显微镜（FIB-SEM），实现特定失效点的微米/纳米级精确定位、截面制备与成分分析。

锂离子电池内短路失效样品拆解分析

 

原子级失效解析技术

　　锂离子电池的失效通常不是单一原因造成的，而是涉及电极材料在多次充放电循环中一系列复杂的、相互关联的物理和化学变化。这些变化往往始于原子或纳米尺度，采用透射电子显微镜（TEM）可阐明原子尺度的失效机理。

 

　　更多精彩案例，诚邀您亲临研讨会现场探讨。

 

　　CTI华测检测蔚思博诚邀您参与2025年10月24日举办的“锂离子电池分析检测技术”线下研讨会。这不仅是技术的交流，更是为您奉上的一把“利器”。

 

　　我们将携手行业专家，深入解析如何运用前沿表征手段，精准“透视”电池内部，从微观机理直指失效根源，为您的产品研发、品质提升与安全护航提供关键支撑。

　　立即预约，锁定席位，与我们一同“利”专业之器，“善”电池之事，共同迈向更高性能、更安全的能源未来！