TEM透射电子显微镜测试

服务背景

透射电子显微镜 (Transmission Electron Microscope)是一个强大的多功能系统，可在半导体器件分析、材料结构分析、细胞生物学、纳米技术研究中提供2/3D表征。能够更好地快速洞察和了解半导体结构、三维大分子结构、合金的成分及组分分布、晶体生长中缺陷的分布及类型等。融合了快速、多通道、高分辨率 STEM 成像和 TEM 成像功能与精确成分分析功能（super-EDX)，可快速、准确地分析材料的结构、成分信息。获取特定结构的关键尺寸，完成客户对于高时效性、高准确性的需求。

TEM透射电子显微镜测试

CTI华测检测为了更好地满足半导体行业客户的需求，助力协助更多的客户解决在芯片设计与生产中遇到的各类问题，开展了TEM透射电镜测试服务。

适用产品

对各种半导体器件及材料样品进行形貌（如物相分布、粒径、分散性等）观察，分析材料晶体结构并在微观尺度观察，配合能谱仪对样品进行成分分析。

检测周期

常规：3个工作日。

注:如需加急请咨询客服。

服务流程