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提供完整的半导体产品芯片可靠性试验项目，协助客户通过JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准

汽车电子芯片，分立器件，光电元器件，传感器，多芯片模组，被动元器件等车用电子、零部件的可靠性认证（AEC-Q100、101、102、103、104、200）

车用电子主要依据AEC作为车规验证标准，AEC目前主要是针对车载应用，汽车零部件，汽车车载电子实施标准规范，建立质量管理控制标准，提高车载电子的稳定性和标准化。

AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q200、AEC-Q104等多个系列的测试认证服务。

CTI华测检测可您提供汽车芯片电子可靠性试验，包括AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q200、AEC-Q104等多个系列的测试认证服务。

提供完整的半导体产品芯片可靠性试验项目，协助客户通过JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准

CTI华测检测可提供完整的芯片封装可靠性环境试验项目，包含技术整合咨询、实验设计规划、硬件设计制作、环境应力试验、封装品质试验等一站式服务，协助客户通过JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准

AEC-Q100集成电路认证测试以及技术咨询一站式服务

CTI华测检测可提供AEC-Q100集成电路认证测试以及技术咨询一站式服务，助力企业产品符合标准要求，顺利进入汽车供应链。

AEC-Q102光电半导体器件认证测试及技术咨询一站式服务

为帮助企业满足汽车行业严苛的质量要求，顺利进入主流汽车供应链，CTI华测检测可提供AEC-Q102光电半导体器件认证测试及技术咨询一站式服务。

电阻器/电容器/电感器/变压器/网络（R-C/C/R）/热敏电阻/磁性器件/变阻器/石英晶振/陶瓷共振器AEC-Q200全套测试及认证一站式服务

CTI华测检测提供AEC-Q200全套测试及认证一站式服务，依据被动元器件应力测试的认证规范、电阻器测试标准、电容器测试标准、电感器测试标准等，对电阻器/电容器/电感器/变压器/网络（R-C/C/R）/

提供完整的芯片产品老化寿命试验项目，协助客户通过JEDEC、MIL—STD、等可靠性国际试验标准

提供完整的芯片产品老化寿命试验项目，包含技术整合咨询、实验设计规划、硬件设计制作、可靠性试验、寿命预估等一站式服务，协助客户通过JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准。

提供完整的芯片产品老化寿命试验项目，协助客户通过JEDEC、MIL—STD、等可靠性国际试验标准

提供完整的芯片产品老化寿命试验项目，包含技术整合咨询、实验设计规划、硬件设计制作、可靠性试验、寿命预估等一站式服务，协助客户通过JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准。

各类刚性/柔性印制电路板（PCB）/集成电路封装基板/电路板组件（PCBA）/相关的电子元器件等热学性能测试与评估一站式服务

CTI华测检测凭借先进的设备与技术专家团队，为您提供从材料级到系统级全面的热学性能测试与评估一站式服务，对各类刚性/柔性印制电路板（PCB）/集成电路封装基板/电路板组件（PCBA）/相关的电子元器件等热学性能进行专业测试评估，出具权威检测报告，为您的产品可靠性保驾护航。